Pokaż uproszczony rekord

Badanie struktury i własności optycznych warstw organicznych na stałych podłożach metodami FTIR, elipsometrii i AFM

dc.contributor.authorFrątczak, Ewelina
dc.date.accessioned2022-10-03T13:45:23Z
dc.date.available2022-10-03T13:45:23Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11089/43500
dc.language.isoplpl_PL
dc.subjectelektronika organicznapl_PL
dc.subjectwarstwy organicznepl_PL
dc.subjectelipsometriapl_PL
dc.titleBadanie struktury i własności optycznych warstw organicznych na stałych podłożach metodami FTIR, elipsometrii i AFMpl_PL
dc.typePhD/Doctoral Dissertationpl_PL
dc.page.number59pl_PL
dc.contributor.authorAffiliationUniwersytet Łódzkipl_PL
dc.dissertation.directorMoneta, Marek
dc.dissertation.reviewerMożejko, Paweł
dc.dissertation.reviewerCichomski, Michał
dc.date.defence2018-12-05
dc.disciplinenauki fizycznepl_PL


Pliki tej pozycji

Thumbnail
Nazwa:
rozprawa doktorska.pdf
Rozmiar:
2.680MB
Format:
PDF
Oglądaj/Otwórz

Pozycja umieszczona jest w następujących kolekcjach

Pokaż uproszczony rekord